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熱門(mén)關(guān)鍵詞： 測(cè)角儀，應(yīng)力雙折射，折射率，薄膜弱吸收，反射率，GDD檢測(cè)設(shè)備，波片相位延遲，剪切
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圓二色性測(cè)量系統(tǒng)使用垂直光路直接從標(biāo)準(zhǔn)孔板測(cè)量圓二色性。這樣就不需要將溶液轉(zhuǎn)移到試管中進(jìn)行篩選，也不需要在分析過(guò)程中清洗試管
各向異性測(cè)量系統(tǒng)2-MGEM橢圓計(jì)是一個(gè)重大的突破，光學(xué)各向異性測(cè)量技術(shù)更快、更準(zhǔn)確、收集更多的數(shù)據(jù)。
Strokes 偏振計(jì)在光學(xué)元件表征、光學(xué)系統(tǒng)光束輸出特性、天文學(xué)、光纖制造、光源和激光質(zhì)量控制等方面有著廣泛的應(yīng)用。
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